目前，的算法是Asha算法（ADSA-RealDrop）方法，它可以實(shí)現(xiàn)重力系數(shù)的自動(dòng)校正，在表面張力的影響下對(duì)接觸角值的綜合分析，并且可以實(shí)現(xiàn)各種條件（例如靜態(tài)接觸角，非-軸對(duì)稱接觸角，向前和向后角的分析）是一種通用的接觸角測(cè)試算法。
接觸角測(cè)量過(guò)程中視角升高的問題終是如何在三維空間中同時(shí)確保或?qū)崿F(xiàn)鏡片的水平控制以及樣品臺(tái)的水平調(diào)節(jié)。請(qǐng)注意，我們?cè)谶@里提到的是同時(shí)實(shí)現(xiàn)的概念，而不僅僅是鏡頭或樣品臺(tái)的水平。同時(shí)，水平度控制的精度要求在0.5度以內(nèi)。
根據(jù)開發(fā)和應(yīng)用時(shí)間的順序，接觸角測(cè)試儀器的驗(yàn)證工具主要分為三種：（1）顯微鏡掩模版；（2）角度校準(zhǔn)板；（3）接觸角測(cè)試儀器的驗(yàn)證工具。。
接觸角測(cè)試儀是用于測(cè)試液-固（或液-液-固）接觸角值和液-氣（或液-液）表面張力/界面張力的分析測(cè)試儀。水滴角測(cè)量?jī)x是一種分析測(cè)試儀，專門設(shè)計(jì)用于測(cè)試由蒸餾水或超純水形成的水滴在固體表面上的接觸角，并評(píng)估被測(cè)固體樣品的表面清潔度和樣品的自由能。
接觸角測(cè)試儀表面的清潔度：分析液晶玻璃，手機(jī)玻璃，PCB板，硅晶片，晶片和晶片的表面接觸角值，并評(píng)估其等離子體清潔效果。如果左右角度值的偏差超過(guò)一定范圍，則視為清潔不良。該方法可以實(shí)現(xiàn)快速（一個(gè)液滴可以完成評(píng)估）和的（角度值誤差在1度以內(nèi)）。
接觸角測(cè)試儀的基本工具是校準(zhǔn)棒，它由陶瓷或鎢鋼制成。接觸角測(cè)試儀或水滴角測(cè)量?jī)x用作分析測(cè)試儀器，通過(guò)視頻圖像方法測(cè)試角度和表面張力的理化性質(zhì)，并識(shí)別像素值。因此，我們需要將該像素值轉(zhuǎn)換為mm，即相應(yīng)的放大率值。
